電子負載可用幾種方法執行電源測試。它們一般是可編程的，但大多數電子負載需要外部DAC編程器。這一能力在測試期間能精確控製負載值
，為測試裝置操作者提供有價值的狀態信息。電子負載通常采用FET設計，它比采用繼電器和電阻器的解決方案更可靠
，也更簡易，還可選擇工作模式：恒流(CC)、恒壓(CV)和恒阻(CR)。

    較(jiao)複(fu)雜(za)的(de)電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)在(zai)一(yi)台(tai)產(chan)品(pin)中(zhong)都(dou)會(hui)提(ti)供(gong)這(zhe)三(san)種(zhong)模(mo)式(shi)
，具(ju)有(you)最(zui)高(gao)的(de)測(ce)試(shi)靈(ling)活(huo)性(xing)
，並(bing)且(qie)還(hai)提(ti)供(gong)測(ce)量(liang)直(zhi)流(liu)電(dian)壓(ya)和(he)電(dian)流(liu)這(zhe)兩(liang)種(zhong)電(dian)源(yuan)的(de)通(tong)用(yong)解(jie)決(jue)方(fang)案(an)。電(dian)子(zi)負(fu)載(zai)的(de)最(zui)後(hou)一(yi)項(xiang)優(you)點(dian)是(shi)可(ke)提(ti)供(gong)通(tong)過(guo)總(zong)線(xian)的(de)回(hui)讀(du)，而(er)無(wu)需(xu)使(shi)用(yong)一(yi)些(xie)測(ce)試(shi)中(zhong)測(ce)量(liang)電(dian)壓(ya)和(he)電(dian)流(liu)的(de)數(shu)字(zi)多(duo)用(yong)表(biao)。

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